Оптимальный режим сканирующей электронной микроскопии для получения изображений поверхности эритроцитов

Аннотация

Полный текст

Цель - исследовать наружную поверхность эритроцитов на сканирующем электронном микроскопе JSM-7800F (JEOL Ltd, Япония) с максимально доступным разрешением под низким напряжением без покрытия образцов. Были изучены два образца от разных пациентов - мазки капли капиллярной крови на стекле, высушенной на воздухе. СЭМ проводили через 28-30 ч с момента изготовления мазка. Всего получено 15 изображений. Ускоряющее напряжение было выбрано в 1 kV и 1,5 kV. Рабочее расстояние составило 2,9 мм, 3,0 мм, 4,0 мм, 10 мм, 12 мм, 13 мм. Кратность увеличений была в диапазоне от 1000 до 200 000. Напряжение в 1 kVи в 1,5 kV под одинаковым увеличением и фокусным расстоянием предоставило идентичные изображения. Рабочее расстояние в 4,0 мм позволило получить наиболее четкую и детальную топографию поверхности эритроцитов. Определение размеров и форм эритроцитов было доступно при увеличении в диапазоне от 1000 до 10 000. Объекты размерами до 100 нм и 100 нм - 1 мкм визуализировались при увеличении в 15 000-200 000 и 10 000-150 000 соответственно. Важно отметить, что при увеличении выше 50000 границы этих объектов теряли четкость. Текстура поверхности («рыхлость») эритроцитов определялась при увеличении в 17 000-50 000. Таким образом, для оптимизации наших дальнейших исследований нами был составлен следующий режим СЭМ: ускоряющее напряжение в 1,0 kV; фокусное расстояние 4,0 мм; значения увеличений - 1000, 5000, 10 000, 20 000 и 50 000.